中国分析测试协会
China Association for Instrumental Analysis

“BCEIA 2021-高校分析测试论坛暨第七届表面分析技术应用论坛”在北京顺利召开

文章来源:BCEIA
2021-10-24 09:56


 

  导读: 9月28日,由国家电子能谱中心、中国分析测试协会高校分析测试分会等联合主办的“BCEIA 2021-高校分析测试论坛暨第七届表面分析技术应用论坛”在北京顺利召开。

  仪器信息网讯  2021年9月28日,由国家电子能谱中心、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、广东省分析测试协会表面分析专业委员会和全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会,联合主办“BCEIA 2021-高校分析测试论坛暨第七届表面分析技术应用论坛”,在北京·中国国际展览中心-天竺新馆隆重开幕。受疫情影响,本届会议采用线上线下联合形式。

  从2019年开始,北京理化分析测试学会表面分析专业委员会和广东省分析测试协会表面分析专业委员会,借助BCEIA平台,携手举办了“北京?广东 表面分析专业委员会年会”,共话表面分析科学及其应用技术的新发展。今天,我们再一次相聚,共话表面分析技术研究与发展。

  国家电子能谱中心副主任、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会常务副理事长姚文清主持开幕式。北京理化分析测试技术学会理事长张经华研究员,广东省分析测试协会表面分析专业委员会主任、中山大学陈建研究员以及全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会秘书长、中科院化学所刘芬副研究员为大会致辞。

 

aa1微信图片_20211021162320.jpg 

国家电子能谱中心副主任、北京理化分析测试学会

表面分析专业委员会常务副理事长 姚文清 主持开幕式

 

aa2微信图片_20211021162332.jpg 

北京理化分析测试技术学会理事长张经华研究员致辞

 

aa3微信图片_20211021162337.jpg 

广东省分析测试协会表面分析专业委员会主任、中山大学陈建研究员

 

aa4微信图片_20211021162346.jpg 

全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会秘书长、

中科院化学所刘芬副研究员致辞

 

  大会全天共邀请了来自全国各高校从事表面分析科研工作的7位专家学者进行主题报告,他们分别是清华大学焦丽颖教授(杰青)、南方科技大学丁孙安教授、北京大学郭少军教授(杰青)、重庆大学周小元教授(杰青)、天津大学-新加坡国立大学(TJU-NUS)福州联合学院林挺斌教授、天津理工大学刘红军教授、华南师范大学田国副研究员。以及大会合作伙伴赛默飞、高德英特及岛津也给我们带来了相关表面分析的技术报告。


aa5微信图片_20211021162350.jpg 

清华大学焦丽颖教授作《二维晶体的表面生长与表征研究》报告


aa6微信图片_20211021162355.jpg 

南方科技大学丁孙安教授作《基于光电子飞行

时间智能化材料光电参数综合测试系统研发》报告

 

aa7微信图片_20211021162358.jpg

北京大学郭少军教授作《材料表面应变调控能源小分子电催化转换》报告


aa8微信图片_20211021162403.jpg 

赛默飞公司业务拓展经理张治忠作《XPS表面分析

技术在能源电池和先进器件材料表征中的应用》报告

 

aa9微信图片_20211021162407.jpg

重庆大学周小元教授作《氧配位过渡族金属单原子局域构型的新型光催化体系》报告

 

aa1微信图片_20211024091508.jpg

天津大学-福州国际学院林挺斌教授作

《扫描隧道显微镜在表面化学研究的应用》报告(录播)

 

aa2微信图片_20211024091531.jpg

高德英特公司鞠焕鑫博士作《表面分析技术在能源材料研究中的应用》报告


aa3微信图片_20211024091536.jpg 

天津理工大学刘红军教授作《二维TMDs薄膜中缺陷及界面结构的STM研究》报告

 

aa4微信图片_20211024091540.jpg

华南师范大学田国副研究员作《基于扫描

探针系统的微观磁、电性能的探测与调控研究》报告

 

aa5微信图片_20211024091543.jpg

岛津公司龚沿东研究员作《XPS分析 - 从超薄到超厚》报告


  在“专家面对面”环节,由北京大学谢景林教授、北京师范大学吴正龙教授、中国科学院化学研究所刘芬副研究员、中山大学陈建研究员组成的专家团队,围绕“XPS数据荷电校正问题探讨”的主题,与现场的来宾共同讨论,学术氛围非常浓烈。


aa6微信图片_20211024091547.jpg 

专家面对面

 

  “专家面对面”环节,由北京大学谢景林教授、北京师范大学吴正龙教授、中国科学院化学研究所刘芬副研究员、中山大学陈建研究员组成的专家团队,围绕“XPS数据荷电校正问题探讨”的主题,与现场的来宾共同讨论,学术氛围非常浓烈。

  本次表面会议线上线下参会人员5000余人,现场及线上的观众对本次会议报告以及相关讨论表示干货满满,表示希望今后能有更多的相关会议深入学习。

 

仪器信息网供稿